선문대학교(총장 황선조)가 18일 본관 국제회의실에서 “2017년 반도체 및 디스플레이 MI기술 포럼”을 개최했다. 이번 포럼은 선문대 차세대반도체기술연구소가 주관, 교육부와 한국연구재단이 후원했다.

MI(계측・검사) 기술은 미세구조를 계측(Metrology)과 검사(Inspection)하는 기술이다. 반도체 및 디스플레이 기술이 발전하면 구조가 미세하게 되고, 이러한 구조의 불량을 방지하기 위해 측정 및 검사의 중요성이 증가하고 있다. MI기술 분야가 차지하는 비중이 점차적으로 증가하여 전체 공정에 50%를 차지하고 있다.

이번 MI포럼은 기업, 연구소 및 대학 등에서 50여 명의 전문가 참여했고, SK하이닉스 이병호 상무가 ‘나노반도체 MI기술현황’에 대해 소개하고, 미국 반도체 전문기업인 Wafer Master 유우식 박사가 ‘PL과 Raman 기술을 응용한 웨이퍼 비파괴검사기술’을 발표하며, 국내 MI기술 발전을 위한 논의 등이 있었다.

선문대학교 차세대반도체기술연구소 김호섭 교수(연구소장, 기계ICT융합공학부 교수)는 지난 2008년부터 국내외 MI와 관련 기술 전문가들과 포럼을 진행하고 있다.

국내 반도체 및 디스플레이 기업(삼성전자, 삼상디스플레이, SK하이닉스, 엘지전자, 엘지디스플레이 등)이 2020년까지 새로운 공장 설립에 투자하는 비용이 50조원 이상으로, 반도체와 디스플레이기업 뿐만 아니라 이를 기반으로 하는 인쇄전자 기업에게는 호재가 되며 전문 인력 수요가 증가할 것으로 보인다.

김호섭 소장(차세대반도체기술연구소장)은 “이번 MI포럼을 통해 지역 중소기업체는 개발 방향 설정과 학생들은 진로와 취업방향 설정에 도움이 될 것으로 본다”고 밝혔다.